扫描系统|danbridge DB250|40通道测试系统

DB250扫描系统|danbridge DB250|40通道测试系统的产品介绍




DB250扫描系统|danbridge DB250|40通道测试系统的描述

DB250扫描系统设计用于方便，快速的电容器质量控制
当今DB250系统为大多数薄膜电容器制造商所使用
DB250系统设计用于连接径向和轴向元件
DB250系统具有非常灵活的夹具，定制设计的夹具，成本也不至于太高

DB250的典型应用
用于金属电容器质量控制
（品管）部门的半自动测试
减少电容器样品测试的工时
测试小批量电容
用于开发部门的电容检测
大型实验室的电容测量

使用danbridge扫描测试装置的好处
精度高测量速度快
易于操作
装件简单
自动报告生成
测试数据可轻松导出
高效的双扫描模式
设定保存便捷
可进行测量数据采集
灵活的夹具

给用户带来好处
从一个类型的电容改变到另一个只需要几分钟的时间，因为测试设定可以保存和重复使用
当系统收集测量结果时，不会产生由操作者不当操作带来的错误
当开关门因故障需要打开时，扫描系统将测试元件自动放电，可使操作人员免受高压伤害


 

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