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简要描述:LT-200A 单颗LED/LED模组加速老化与寿命测试系统通过美国NVLAP关于LM-80的认可典型应用场景LT-200A单颗LED和LED模组加速老化与寿命测试系统主要用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化试验、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。系统能实时监测LED样品的光色电参数及基座温度等,通过对数据进行处理,绘制老炼曲线,推算出该LED样品的预期寿命。
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