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光谱图像测色分析仪

  • 产品型号:SICA-2000
  • 更新时间:2024-07-18

简要描述:高光谱测色砖利技术典型应用场景
SICA-2000光谱图像测色分析仪采用远方高光谱测色钻利技术,采用CIE D/8测量几何,可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像,并对图像各区域的颜色和光谱进行分析,并可对“无法测量的材料"实现数字化高精度测量,非常适用于纺织品、纺织饰物(纽扣、按钮、拉链等)、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。

产品详情
SICA-2000 光谱图像测色分析仪
高光谱测色砖利技术                                                                                                                                                                                                                                     “无法测量的材料"实现数字化颜色测量
典型应用场景
SICA-2000光谱图像测色分析仪采用远方高光谱测色砖利技术,采用CIE D/8测量几何,可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像,并对图像各区域的颜色和光谱进行分析,并可对“无法测量的材料"实现数字化高精度测量,非常适用于纺织品、纺织饰物(纽扣、按钮、拉链等)、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。
光谱图像测色分析仪
主要特点
1、符合CIE标准D/8测量几何要求,同时具备SCI和SCE测量条件。
光谱图像测色分析仪
2、采用高性能光源,长期稳定性好,光源寿命更长。
3、多方位监控以及补偿设计,保证测试结果的重复性更高、稳定性更好。
4、采用远方高光谱引擎,图像分辨率高,空间测量分辨率更高。
5、砖利的软硬件系统设计提供了极其高的光谱测试的准确度以及解析力,保证测试的准确性
主要技术指标
光谱图像测色分析仪


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