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杭州远方
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简要描述:高光谱测色砖利技术典型应用场景SICA-2000光谱图像测色分析仪采用远方高光谱测色钻利技术,采用CIE D/8测量几何,可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像,并对图像各区域的颜色和光谱进行分析,并可对“无法测量的材料"实现数字化高精度测量,非常适用于纺织品、纺织饰物(纽扣、按钮、拉链等)、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。
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