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简要描述:NSTAR-200 近红外光谱透反射性能测量系统集透射和反射测量于一体典型应用场景NSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体,用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率,测量波段范围覆盖780-1600nm。系统应用远方公司多项砖利技术,可快速精确测量近红外宽波段范围内光谱透反射率,系统测量灵敏度高,稳定性、复现性好,杂散光小,可满足较低透反射率的深色
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